


半导体微聚焦X射线检测设备AX8300Si是一款专为半导体封装、电子元器件及精密制造领域设计的无损检测设备,采用微米级聚焦X射线技术,结合高精度机械系统和智能图像分析软件,可实现对芯片、焊点、封装结构等的非破坏性内部检测。
应用领域:精密电子制造行业、半导体行业(集成电路)汽车电子行业、航空航天电子行业
检测项目:锡焊缺陷(缺焊/连锡/气泡)Bonding缺陷(金线变形/断丝/芯片偏移)、SPC过程控制等

![]() | 技术和备件维修供应的经验和技术基础
|
非标定制
+86 18675509369
品牌正品

![]() |
电话:0755-27124066 手机:+86 18675509369 |
![]() |
传真:0755-27124066 |
![]() |
E-mail : liurc@minflytech.com |
![]() |
地址:广东省深圳市光明区炮台路48号创新云谷f栋3层 |

